《YBCO(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法》国家标准修订工作第一次会议

《YBCO(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法》国家标准修订工作第一次会议于2021年5月25日晚上以线上形式召开,会期1个小时。与会人员包括全国超导标准化技术委员会秘书处,拟参与标准修订的相关单位人员。

 

宁波大学孔祥燕教授介绍了《YBCO(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法》(GB/T 1711-1999)国家标准的基本情况和修订建议,提出拟启动申报该标准修订项目。与会专家经过讨论,同意对原GB/T 1711-1999进行修订,并对原标准的修订提出修改意见。初步修订意见和共识如下:

 

  1. 李洁建议从以下几个方面展开讨论(a)标准适用范围是否扩大?如对于REBCO涂层导体等是否适用?(b)原标准规定将薄膜刻成微桥后用四引线法测量,可否考虑选用其他方法,如探针法或者van der pauw方法?(c)Tc和ΔTc的定义在强电和弱电应用领域有差别,如何协调?(d)循环比对试验的必要性和实验细节。

 

  1. 关于适用范围:(a)薄膜种类:可包含其他高Tc材料的薄膜,如YBCO、DyBCO、TlBCO等,暂时不考虑液氮以下温区的超导薄膜。(b)薄膜厚度:可考虑几个应用广泛的区间,如滤波器用650 nm。一般厚的膜的转变区间短,薄的膜的转变区间宽。(c)制备方法:若薄膜表面镀金不影响Tc测试,可以保留。(d)衬底的选择:限单晶基片,特别是LaAlO3和MgO,不考虑金属基带上生长的涂层导体。(e)多相薄膜和半导体型薄膜:暂时考虑不排除,待进一步试验验证。

 

  1. 关于测试方法:不一定要用四引线电阻法;建议不选用光刻工艺,光刻工艺属破坏性测试,且不适合工业化生产;建议采用非破坏性测试方法,考虑探针测试和多点测试。是否定义升温测试、还是允许降温测试,待定。

 

  1. 关于循环比对试验:(a)测试设备:不一定要商用PPMS测试系统;自制系统需要校准温度传感器。(b)测试样品:DyBCO薄膜由天津海泰提供。其他薄膜提供方未定。(c)指导文件:先完成循环比对指导文件,再讨论确定具体方案和细节。

 

  1. 修订后的标准,使用者不应该局限在实验室科研人员,而应该面向应用和产业化;因此后续计划邀请超导薄膜的使用者,如滤波器、SQUID等方向的相关专家,参与本标准的修订。

 

  1. 由孔祥燕牵头,按照最新《GB/T 20001标准编写规则》,参考其他相近超导测试标准,对整个标准框架进行调研和梳理,形成详尽的循环比对试验指导文件。

 

  1. 预研启动后多方进行互动交流和实验;对于一些细节如拟合方法     等进行确认;不定期召开多次视频会议进行详细讨论。

 

参会人员名单

孔祥燕,王海(宁波大学)

李洁(中国科学院物理研究所)

季鲁(南开大学)

季来运,孙延东(天津海泰导电子有限公司)

张国锋(中科院上海微系统与信息技术研究所)

王雪深(中国计量科学研究院)