2018年第3号中国国家标准公告

中华人民共和国国家标准公告

 

2018年第3号

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关于批准发布《普通螺纹 公差》等240项国家标准和4项国家标准修改单的公告

国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准《普通螺纹 公差》等240项国家标准和4项国家标准修改单,现予以公布(见附件)。

 

国家质检总局 国家标准委

2018-03-15

 

序号 标准编号 标准名称 代替标准号 实施日期
66 GB/T 18502-2018 临界电流测量
银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流
GB/T 18502-2001 2018-07-01
88 GB/T 22586-2018 电子学特性测量
超导体在微波频率下的表面电阻
GB/T 22586-2008 2018-10-01

 

GB/T 18502-2018《临界电流测量  银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体》使用翻译法等同采用IEC 61788-3:2006 (Ed.2.0)《超导电性—第3部分:临界电流测量—银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流》。

本标准代替GB/T 18502—2001《银或银合金包套铋系氧化物超导体直流临界电流的测定》。

本标准测试方法适用于具有一体化结构,呈圆、扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银合金包套Bi-2212与Bi-2223氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量。

本标准测试方法适用于临界电流小于500 A、n值大于5的超导体。测量可在有或无外加磁场的条件下进行。在磁场环境中测试时,磁场应垂直于样品的长度方向。在带状样品的测试中,磁场可垂直或平行于超导体较宽的一面(如果是方形,任何一面均可)。测试过程中,被测样品浸泡在液氮或液氦中。本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定。

本标准起草单位:中国科学院电工研究所、中国电力科学研究院、西部超导材料科技股份有限公司、西北有色金属研究院。

本标准主要起草人:张国民、林良真、靖立伟、丘明、闫果、李成山。

本标准2018年03月15日发布,将于2018年07月01日实施。

 

GB/T 22586-2018《电子学特性测量  超导体在微波频率下的表面电阻》修改采用IEC 61788-7:2006《超导电性 第7部分:电子性能测量 超导体在微波频率下的表面电阻》,主要技术差异是增加了一个规范性附录,给出了“改进型镜像介质谐振器法”应用“校准技术”测量单片高温超导薄膜微波表面电阻(RS)的方案。本方案采用的是TE011+δ模式改进型镜像蓝宝石介质谐振器法,通过校准,单片超导薄膜的RS值可以通过一次测量得到。本方案在满足测量变异系数低于20%的前提下,能大幅度提高测试效率,适合大批量工业化的测试;
 
本标准代替GB/T 22586-2008《高温超导薄膜微波表面电阻测试》。
 
本标准起草单位:电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。
 
本标准主要起草人:曾成、罗正祥、补世荣、魏斌、吉争鸣、孙亮。
 
本标准于2018年3月15日发布,将于2018年10月1日起实施。